• 已选条件:
  • × Semiconductor parameters
 全选  【符合条件的数据共:1条】

作者:Sofyan, N.^1;Ridhova, A.^1;Salman^1;等

关键词:Electron transport layers;Field emission scanning electron microscopes;...

会议举办机构:Department of Metallurgical and Materials Engineering, Faculty of Engineering, Universitas Indonesia, Depok

会议时间:2019

预览  |  原文链接  |  全文  [ 浏览:12 下载:6  ]